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機種名

日本電子株式会社 JEM-2100PLUS

仕様

バージョン	高分解能構成
ポールピース	HR
倍率	×1,500,000
分解能	粒子像 0.23nm 格子像 0.14nm
加速電圧 (kV )	80,100,120,160,200
試料傾斜角 (X/Y)	±35/30°

特徴

• JEM-2100の光学系に最新の制御系をプラスし、操作性が大幅に向上した多目的電子顕微鏡で、幅広い分野での使用が可能です。
• STEM(走査像観察装置 )を搭載しており、高感度、高分解能分析（EDS分析）が可能です。新設計のゴニオメータステージを採用し、 長時間の安定した観察、分析が可能です。